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热常数测试仪Hotdisk( 平面热源法TPS)

热常数测试仪Hotdisk( 平面热源法TPS)

别名 Hot Disk热常数测试仪 / TPS平面热源法导热仪 / Hot Disk导热系数测试仪 / 平面热源法导热系数测试 / Hot Disk热物性分析仪 / TPS热常数分析仪 / Hot Disk常温导热系数测试 / Hot Disk变温导热系数测试
仪器型号 Hotdisk TPS2500S
服务周期 3~5 工作日

项目介绍

热常数测试仪(Hot Disk TPS2500S)基于瞬态平面热源法,可在单次测试中同时获得材料的热导率、热扩散率和体积比热,为材料研发、来料检验与热管理设计提供直接的热物性数据。对于导热界面材料、保温建材、聚合物复合材料等,热参数直接决定产品的隔热或散热性能,本检测可帮助客户判断配方、工艺或结构是否达到设计目标。

基本原理

TPS 法采用双螺旋金属镍箔作为平面热源兼温度传感器,将其夹持于两块样品之间(或覆于单块样品表面)。测试时对镍箔施加恒定功率阶跃,镍箔同时产生热量并向样品内部扩散,其电阻随温度升高而变化,通过记录镍箔两端电压与电流随时间的变化,得到温升响应曲线 ΔT(τ)。基于各向同性介质中平面热源的温度场解析解,将温升曲线拟合为时间函数的多项式,即可同时反演得到热导率 λ(W/(m·K))、热扩散率 α(mm²/s)与体积比热 Cρ(MJ/(m³·K))。该方法对样品无特殊形状要求,测试时间短,且温升通常控制在 1~5 K 以内,对样品热物性扰动小。

热常数测试仪Hotdisk( 平面热源法TPS)原理解讲图

设备参数范围

Hot Disk TPS2500S 由瑞典 Hot Disk AB 生产,属于 TPS 系列中的高温型主机,配用不同规格的 Kapton、云母或金属蚀刻探头,可覆盖从绝热材料到高导热金属的宽量程测试需求。设备主要由主机、探头、恒温炉体与数据采集软件组成,支持单面与双面测试模式。

项目

参数

热导率量程

0.005~500 W/(m·K)

热扩散率量程

0.01~100 mm²/s

比热测量

0.1~5 MJ/(m³·K)

温度范围

-150~600℃(配高温炉与相应探头)

测试时间

单次 1~1280 s 可设,典型 10~200 s

探头规格

直径 2~30 mm 多种规格,按样品与导热范围选配

温升控制

典型 1~5 K,可调

重复性

热导率典型优于 ±2%

样品尺寸

块体直径≥30 mm,厚度≥5 mm(双面模式需两块同材质样品)

· 以上为典型配置范围,具体指标以设备实际标定为准

典型应用场景

· 导热界面材料:导热硅脂、导热垫片、灌封胶的热导率与热扩散率评价

· 保温建材:岩棉、聚氨酯泡沫、气凝胶毡等低导热材料的隔热性能检测

· 聚合物与复合材料:填充型塑料、橡胶、树脂基复合材料的热物性表征

· 金属与合金:铝、铜、不锈钢等均质材料的热导率快速测定

· 新能源与电子:电池极片、模组隔热垫、散热基板的热管理参数验证

样品要求

TPS 法对样品形状适应性强,但探头与样品之间的接触状态直接影响数据可靠性,送样前请按以下要求准备。

样品类型

推荐尺寸/量

具体要求

注意事项

块体/片材

直径≥30 mm,厚度≥5 mm,两块

上下表面平整,无裂纹、气孔

双面模式需同材质同厚度

薄膜/薄片

直径≥30 mm,单层厚度≥0.1 mm,多层叠至≥5 mm

层间无气泡,叠层紧密

需注明叠层方式与层数

粉末

体积≥30 mL

粒度均匀,含水率低

需压片或使用粉末附件

液体/膏体

体积≥20 mL

无挥发、无腐蚀性

需用液体池,避免气泡

不满足上述尺寸或表面状态时,可协助进行切割、打磨或压片制样;特殊形态样品建议提前与工程师沟通装夹方案。

测试步骤

步骤 1:样品制备

· 块体样品需加工为上下两面平整的片状或块状,双面模式需两块同材质、同厚度样品,表面粗糙度建议 Ra≤3.2 μm

· 粉末样品需压片成型或装入专用液体/粉末测试附件,确保探头与样品接触面无明显空隙

· 含湿样品需按测试方案进行干燥或恒温恒湿平衡处理,记录处理条件

步骤 2:装夹与检查

· 根据样品导热范围选择探头规格,低导热样品选大直径探头,高导热样品选小直径探头

· 将探头夹持于两块样品之间,施加均匀夹紧力,排除界面空气层;单面模式需在探头背面加隔热背衬

· 检查探头是否平整、有无折痕,确认热电偶与数据线连接正常

步骤 3:上机测试

· 设置测试功率与加热时间,使温升控制在 1~5 K 范围,避免自然对流与辐射影响

· 按测试方案设定恒温温度,待炉体温度稳定后开始采集,记录温升-时间曲线

· 每个样品至少重复测试 3 次,取平均值并记录离散性

步骤 4:数据复核

· 检查拟合残差与温升曲线线性度,剔除受对流或接触不良影响的异常数据

· 核对热导率、热扩散率与体积比热三者的一致性,判断测试有效性

步骤 5:报告出具

· 报告列明测试方法、探头规格、测试温度、温升设定及重复测试结果

· 常规 3~5 个工作日出具报告,含原始曲线与拟合参数

常见问题

Q1:热导率、热扩散率和比热是一次测试同时得到吗?

A1:是。TPS 法通过一条温升曲线同时反演出热导率 λ、热扩散率 α 和体积比热 Cρ,三者相互关联,报告会一并给出,便于交叉验证数据可靠性。

Q2:测试温度范围能到多少?高温测试对样品有什么要求?

A2:配高温炉与相应探头,典型可覆盖 -150~600℃。高温测试要求样品在测试温度下不分解、不软化流淌、不与探头发生反应,否则需降低温度或改用其他方法。

Q3:样品最少需要多少?

A3:双面模式需两块直径≥30 mm、厚度≥5 mm 的同材质样品;薄膜可多层叠至 5 mm 以上;粉末约 30 mL,液体约 20 mL。尺寸不足时数据拟合误差会增大。

Q4:和激光闪射法(LFA)相比怎么选?

A4:TPS 法适合均质、低至中等导热材料,可同时给出三个热参数,对样品形状要求低;LFA 更适合高导热薄片与高温测试,但只直接测热扩散率,比热需另测。各向异性明显的材料建议两种方法配合使用。

Q5:测试周期多久?

A5:常规 3~5 个工作日,含制样与数据处理;高温或特殊气氛测试需另加炉体升降温时间,具体按测试方案确定。

Q6:数据异常或重复性差怎么办?

A6:常见原因是样品表面不平、探头接触不良或温升设置过高引起对流。我们会先复核曲线与拟合残差,必要时重新制样复测,并在报告中说明。

Q7:报告包含哪些内容?

A7:报告含样品信息、测试方法、探头规格、测试温度、温升设定、热导率/热扩散率/体积比热结果及重复性,并附温升曲线与拟合参数。

典型案例

案例 1:导热硅脂配方开发中的热导率评价

【背景】某电子材料企业开发高填充导热硅脂,需比较不同填料配比对热导率的影响,为配方筛选提供依据。

【测试条件】仪器:Hot Disk TPS2500S,配直径 10 mm 探头;样品:导热硅脂,置于液体池中测试;关键参数:测试温度 25℃,温升设定 2 K,加热时间 40 s。

【分析结果】三个配方热导率分别为 1.8、2.6、3.4 W/(m·K),热扩散率随填料含量增加同步上升,体积比热变化较小。配方三在填料含量 85% 时热导率提升明显,但重复测试离散性增大至 ±5%,提示分散均匀性下降。

【价值】客户据此锁定配方二为兼顾导热与工艺性的方案,并对配方三的分散工艺进行优化,缩短了开发周期。

案例 2:气凝胶毡高温隔热性能验证

【背景】某建材企业将气凝胶毡用于工业管道保温,需验证其在 200℃ 工况下的隔热性能是否满足设计值。

【测试条件】仪器:Hot Disk TPS2500S 配高温炉与云母探头;样品:气凝胶毡,两块直径 60 mm、厚度 10 mm;关键参数:测试温度 25℃、100℃、200℃,温升 3 K。

【分析结果】常温热导率 0.020 W/(m·K),200℃ 时升至 0.032 W/(m·K),仍低于设计限值 0.040 W/(m·K)。热扩散率随温度升高略有下降,体积比热基本稳定。

【价值】数据支撑该材料在 200℃ 工况下的保温厚度设计,客户据此优化了管道保温层结构,避免了过度设计。