工业CT/微米CT检测通过X射线三维断层扫描,在不破坏样品的前提下获取内部结构与密度分布的三维数据,用于判断缺陷位置、尺寸与形态,评估装配关系与材料均匀性。客户可据此确认产品是否满足设计要求、定位失效来源、完成首件与批次比对。适用对象覆盖金属铸件与增材件、电子封装与连接器、复合材料、陶瓷、聚合物及小型总成,广泛用于汽车、航空航天、消费电子、医疗器械与新能源行业。
基本原理
X射线穿过样品时按材料密度与原子序数发生衰减,透射强度服从指数衰减规律。设备以锥束或扇束几何采集样品在360°旋转下的二维投影序列,经滤波反投影或迭代重建算法还原为体素数据集,体素灰度与材料局部线性衰减系数相关。核心物理量为空间分辨率(体素尺寸可达微米级)、密度对比度与几何测量精度。由体素数据可提取任意截面、进行缺陷分割与尺寸测量,并可与CAD模型做名义-实际比对(壁厚、孔隙率、装配间隙等)。
设备参数范围
本平台配置蔡司 METROTOM 1500 与 XLON/依科视朗 FF-35 两套工业CT系统,均具备微焦点射线源与高精度转台,支持二维实时成像与三维断层重建。METROTOM 系列以计量级几何精度见长,适合尺寸测量与GD&T分析;FF-35 兼顾大视野与较高穿透能力,适合较大尺寸零件与高密度材料。具体可测范围取决于样品材质与尺寸,关键维度如下表,未列数值以设备实际量程为准。
项目 | 参数 |
|---|---|
射线源类型 | 微焦点X射线源,支持多档电压/电流组合 |
空间分辨率 | 体素尺寸可达微米级,随放大倍率变化,以设备实际量程为准 |
最大样品尺寸 | 受转台与放大几何限制,需与工程师确认 |
最大穿透厚度 | 取决于材料密度与射线能量,钢、铝、聚合物差异显著,以设备实际量程为准 |
几何测量精度 | 计量级,具体指标以设备实际量程为准 |
温度条件 | 常温测试,特殊温控需求需与工程师确认 |
扫描模式 | 二维实时成像、三维锥束CT、局部高分辨扫描 |
数据输出 | 体素数据、任意截面、缺陷报告、CAD比对结果 |
典型应用场景
· 金属铸件与压铸件:气孔、缩孔、冷隔、夹杂的位置与体积占比评估
· 增材制造件:内部未熔合、孔隙分布、支撑残留与尺寸偏差分析
· 电子器件与连接器:焊点空洞率、BGA虚焊、内部走线与装配干涉检查
· 复合材料与陶瓷:分层、纤维取向、裂纹与密度均匀性评价
· 新能源部件:电池极片、电芯内部结构与焊接质量的无损检查
· 精密机械与医疗器械:内部装配关系、壁厚测量与首件比对
