白光干涉仪是一种基于光学干涉原理的高精度非接触式测量设备,通过分析两束相干光的光程差实现微观表面形貌的三维重建。其核心机制如下:
干涉原理:白光光源(如LED或氘灯)发出的宽谱光经分束器分为参考光束和测量光束。参考光束经参考镜反射,测量光束则通过待测表面反射。两束光重新汇合后形成干涉条纹,其位置和强度与光程差直接相关。
垂直扫描法(VSI) :通过压电陶瓷(PZT)驱动样品或物镜沿垂直方向移动,捕捉干涉波包的峰值位置,从而确定每个测量点的高度信息。此方法结合了相移法(PSI)的高精度和垂直扫描的大范围优势。
三维形貌重建:利用CCD传感器记录不同位置的干涉条纹,通过算法(如扩展型相移算法EPSI)解析出样品的相对高度,最终生成表面三维图像。

