电感耦合等离子体发射光谱/质谱法(ICP-OES/MS)是痕量元素分析的通用手段,用于测定样品中主量、微量和痕量元素的含量。客户通过该检测可获得准确的多元素定量结果,用于材料成分鉴定、杂质控制、失效分析或环境合规评估。本仪器适用于金属、合金、无机非金属、化工原料及环境样品等各类固体、液体材料的元素分析。
基本原理
样品经前处理(通常为酸消解)转化为溶液后,由雾化器引入氩等离子体炬(约6000~10000 K)中,待测元素被原子化、激发并电离。ICP-OES通过测量特征发射光谱强度进行定量,ICP-MS则通过质谱检测器分离并计数离子,获得更低的检出限。核心物理量为元素特征谱线强度(ICP-OES)或离子质荷比(m/z)信号(ICP-MS),经标准曲线校正后换算为元素浓度。
设备参数范围
本平台配备安捷伦 7900 ICP-MS、5800 ICP-OES、珀金埃尔默 NexION 1000G、赛默飞 iCAP RQ及iCAP 6500等主流型号,覆盖从亚ppt级(ICP-MS)到百分含量(ICP-OES)的宽浓度范围。设备具备高分辨率、低干扰的测量能力,可配备自动进样器及多种附件(如氢化物发生、激光剥蚀等),具体性能指标以设备实际配置为准。
项目 | 参数 |
|---|---|
可测元素范围 | Li~U(多数元素) |
浓度范围 | ICP-MS:ppt~ppm级;ICP-OES:ppb~%级 |
样品引入 | 溶液雾化(标配)、可选氢化物发生/激光剥蚀 |
分析时间 | 单元素数十秒,多元素(30+)约2~5分钟 |
精密度 | RSD通常<5%(视元素及浓度) |
检出限 | ICP-MS多数元素可达ppt级,需与工程师确认 |
典型应用场景
· 高纯金属及合金中杂质元素定量(如铜、铝、钛合金)
· 无机非金属材料(陶瓷、玻璃、水泥)成分分析
· 化工原料、催化剂中金属含量及杂质筛查
· 环境样品(水、土壤、大气颗粒物)重金属监测
· 涂层、镀层及薄膜的元素组成测定(结合消解或剥蚀)
· 失效分析中异物或腐蚀产物的元素溯源
