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激光剥蚀串联电感耦合等离子体质谱仪LA-ICP-MS

激光剥蚀串联电感耦合等离子体质谱仪LA-ICP-MS

别名 激光剥蚀电感耦合等离子体质谱仪 / 激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱 / Laser Ablation Inductively Cou / 激光剥蚀串联ICP-MS / 激光剥蚀ICP-MS / 激光剥蚀质谱
仪器型号 ESL-Perkinelmer仪器型号:NWR213-NexION 1000G
服务周期 3~5 工作日

项目介绍

激光剥蚀串联电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)用于对固体样品进行原位微区元素与同位素分析,可解决“样品中某微区、某包裹体、某层位到底含什么元素、含量多少”的问题,给出元素含量、分布映射与同位素比值等结论。该技术广泛应用于地质、材料、环境、考古与半导体行业,尤其适合金属、合金、陶瓷、玻璃、矿物及涂层等固体材料的微区成分表征。

基本原理

设备以高能量密度激光束聚焦于样品表面,使微区物质瞬间熔蚀并气化,形成气溶胶颗粒;载气将气溶胶送入电感耦合等离子体(ICP)中,经高温电离生成一价正离子;离子经接口与离子透镜进入四极杆质量分析器,按质荷比(m/z)分离后由检测器计数。通过测定各同位素离子信号强度,结合外标与内标校正,可计算元素含量(μg/g 级至 % 级)及同位素比值。激光剥蚀提供原位、微区、低破坏性的采样能力,ICP-MS 提供高灵敏度、多元素同时检测能力,二者串联实现空间分辨的元素与同位素分析。

设备参数范围

本设备由 ESL NWR213 激光剥蚀进样系统与 PerkinElmer NexION 1000G 电感耦合等离子体质谱仪串联组成。ESL NWR213 采用 213 nm 紫外激光,具备高能量密度与稳定剥蚀特性;NexION 1000G 为四极杆 ICP-MS,具备多元素快速扫描与同位素比值测定能力。二者联用可覆盖从主量到痕量元素的分析需求。

项目

参数

激光波长

213 nm(Nd:YAG 紫外激光)

激光能量密度

典型 1~20 J/cm² 可调

剥蚀斑径

典型 4~200 μm 可调

脉冲频率

典型 1~20 Hz 可调

剥蚀模式

单点、线扫描、面扫描(元素成像)

质量分析器

四极杆,质量范围 1~260 amu

检测限

多数元素 0.01~1 μg/g(视元素与基体)

同位素比值精度

典型 RSD 0.1%~0.5%(视信号强度)

载气

He 载气,Ar 补充气

样品室

标准快速交换样品池,适配块状、薄片样品

· 以上为典型配置范围,具体指标以设备实际标定为准

典型应用场景

· 金属与合金:微区偏析、夹杂物、镀层/涂层界面元素分布分析

· 地质矿物:锆石、独居石等矿物微区 U-Pb 定年与微量元素分析

· 环境与考古:玻璃、陶瓷、颜料等文物的产地溯源与成分比对

· 半导体与电子材料:薄膜、焊点、封装材料的痕量杂质与元素分布

· 环境颗粒物:单颗粒或微区重金属元素含量与来源判别

· 生物与医学材料:牙齿、骨骼、植入体等硬组织的微量元素分布

样品要求

样品需为固体或可压片粉末,表面平整、清洁、无挥发性有机物。不同形态要求如下:

样品类型

推荐尺寸/量

具体要求

注意事项

块状/片状

直径 5~25 mm,厚度 1~10 mm

表面抛光或平整,无油污

需能放入样品池,避免过高

粉末

0.1~1 g

压片或粘于载玻片,表面致密

粒度建议 <75 μm,避免松散

薄膜/涂层

面积 ≥5×5 mm

附于基体,表面均匀

需确认膜层厚度与剥蚀深度匹配

矿物/包裹体

单颗粒 ≥30 μm

抛光薄片或树脂靶

需标注目标微区位置

不满足要求时,可协助进行切割、抛光、压片等制样处理,具体方案与工程师确认。

测试步骤

步骤 1:样品制备

· 块状/薄片样品切割或打磨至可放入样品池,表面平整、清洁、无油污

· 粉末样品需压片或粘于载玻片,确保表面致密、不脱落

· 树脂包埋样品需抛光露出待测面,避免树脂污染信号

步骤 2:装夹与检查

· 将样品固定于样品池载台,确保待测面与激光焦平面平行

· 检查样品池密封性,避免漏气导致信号不稳

· 用标准玻璃(如 NIST SRM 610/612)进行调谐与质量校准

步骤 3:上机测试

· 设置激光斑径、频率与能量密度,按测试方案设定

· 先以线扫描或预剥蚀清除表面污染,再采集数据

· 采集时监控内标信号,待信号稳定后记录,单点采集典型 20~60 s

步骤 4:数据复核

· 检查内标回收率与同位素比值稳定性,剔除异常信号段

· 用外标校准曲线计算含量,必要时做干扰校正

· 对成像数据检查空间分辨率与元素分布合理性

步骤 5:报告出具

· 报告含测试条件、校准信息、元素含量表或分布图

· 常规 3~5 个工作日出具,含数据解读说明

常见问题

Q1:LA-ICP-MS 能测哪些元素和含量范围?

A1:可测元素周期表中多数金属与部分非金属元素,含量范围从 μg/g 级到 % 级,具体取决于元素、基体与剥蚀条件。轻元素(如 H、C、N、O)灵敏度较低,通常不作为常规项目。

Q2:测试周期多久?

A2:常规样品 3~5 个工作日出具报告,含制样与数据复核。若需面扫描成像或同位素比值,周期可能延长 1~2 个工作日。

Q3:最少需要多少样品?

A3:块状样品直径 ≥5 mm、厚度 ≥1 mm 即可;粉末建议 0.1~1 g;薄膜面积 ≥5×5 mm。微区分析需明确目标位置。

Q4:与溶液 ICP-MS 相比如何选择?

A4:LA-ICP-MS 为原位微区分析,样品前处理少、空间分辨率高,适合分布与微区成分;溶液 ICP-MS 适合整体平均含量与高精度定量。若需整体含量且样品可消解,可选溶液法。

Q5:哪些样品不适合测试?

A5:高挥发性、含大量有机溶剂或易爆样品不适合;含水样品需干燥;强磁性样品可能影响进样,需提前说明。

Q6:数据异常或需要复测怎么办?

A6:若因样品不均或信号干扰导致数据异常,可沟通后对同一样品重新选点复测,复测按新样品计费。

Q7:报告包含哪些内容?

A7:报告含测试条件、校准信息、元素含量表或分布图,以及必要的干扰校正说明,可提供电子版与纸质版。

典型案例

案例 1:铝合金焊缝微区元素偏析分析

【背景】某航空材料企业发现铝合金焊接接头在疲劳测试中早期开裂,需查明焊缝附近是否存在元素偏析导致局部性能下降。

【测试条件】采用 LA-ICP-MS,激光斑径 30 μm,频率 10 Hz,线扫描模式,以 NIST SRM 610 为外标,Al 为内标。

【分析结果】焊缝熔合线附近 Mg 含量从基体的 1.2% 降至 0.6%,Zn 在热影响区富集至 0.8%,局部存在明显偏析带,宽度约 80 μm。

【价值】客户据此调整焊接工艺与热处理制度,降低偏析程度,提升接头疲劳寿命。

案例 2:锆石微区 U-Pb 定年与微量元素分析

【背景】某地质调查单位需对采自造山带的锆石颗粒进行微区定年,以厘定区域构造演化时限。

【测试条件】采用 LA-ICP-MS,激光斑径 25 μm,频率 5 Hz,以 91500 锆石为外标,Si 为内标,采集 U、Th、Pb 同位素信号。

【分析结果】锆石核部年龄为 452±8 Ma,边部为 421±6 Ma,Th/U 比值 0.1~0.8,显示两期岩浆事件。

【价值】客户获得可靠年代学数据,为区域构造演化模型提供关键约束。