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动态热机械分析仪(DMA)
TA Instruments:DMA 850、Q800
3~5 工作日
圆二色光谱仪(CD)
JASCO J-1500
3~5 工作日
摩擦磨损试验机(线性模式、往复摩擦)
Rtec MFT-5000
3~5 工作日
纳米划痕仪
Anton Paar Step700,美国Kla imicro
3~5 工作日
原子吸收光谱仪(AAS)
SP-3520AA
3~5 工作日
电感耦合等离子发射光谱仪/质谱仪 (ICP-OES/MS)
安捷伦(Agilent) 7900 ICP-MS,安捷伦 5800,NexION100G,Thermo Fisher Scientific iCAP RQ,iCAP 6500
3~5 工作日
超景深三维显微镜
日本基恩士EHX-7000,奥林巴斯 DSX1000
3~5 工作日
光学显微镜
Zeiss Axiolab 5
3~5 工作日
三坐标测量仪(CMM)
三丰 CRYSTA-Apex S7106
3~5 工作日
白光干涉仪(3D光学轮廓仪)
SuperView W1
3~5 工作日
X射线荧光光谱仪(XRF)
岛津 EDX-8100,ARL PERFORM’ X,EDX-LE Plus,ZSX Primus IV
3~5 工作日
氧氮氢分析仪(ONH)
LECO ON836,ELTRA ONH-2000
3~5 工作日
碳硫分析仪 CS
LECO CS844,CS800
3~5 工作日
裂解气相色谱质谱仪(Py-GC-MS)
Frontier Lab EGA/PY-3030D,岛津,安捷伦
3~5 工作日
直读光谱仪(OES)
岛津PDX-7000
3~5 工作日
超声扫描显微镜(SAM)
D9650 C-SAM
3~5 工作日
工业CT/微米CT
蔡司 METROTOM 1500,XLON/依科视朗 FF-35
3~5 工作日
氩离子切割仪(CP)
JEOL IB-19520CCP,JEOL (IB-09020),Hitachi IM4000 Plus
3~5 工作日
原子力显微镜(AFM)
Bruker Dimension Icon,BRUKER ICON 3000,Bruker Multimode 8
3~5 工作日
透射电镜(TEM)
FEI Tecnai F20,Talos F200E,EM-2100F
3~5 工作日
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